静态变形分析
XTDP可取代传统的位移传感器、全站仪等,用以捕捉位移和变形。利用XTDP三维光学摄影测量系统,可以生成以下各类测量点参数:
• 三维坐标 • 三维位移 • 变形 • 弯曲、扭转、挠度
• 旋转角 • 六个自由度 • 相对位移(点 - 点、点 - 线、点 - 面)
相似材料静态变形分析
XTDP操作简便、精度高、效率更高,采用全局标志点整体测量,自动计算变形,可替代传统的全站仪,已成为煤岩、地质行业的一个必备手段。
复杂结构静态变形测试
作为一种非接触式的测量方式,XTDP可取代传统的位移传感器,用以捕捉复杂结构下的位移和变形。