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XTDP三维光学摄影测量用于测量天线弧面变形均方根差

新拓三维XTDP三维摄影测量系统,一套非接触式光学三维工业摄影测量系统,用于大型天线弧面变形空间尺寸几何检测和静态变形测量,系统采用非接触式照相测量方法,利用高分辨率测量专用相机,不同方向拍照获取图像获取待测物体的三维坐标,利用三维坐标对工件进行几何尺寸检测、变形测量、逆向工程分析等。

新拓三维XTDP三维摄影测量系统.jpg

XTDP三维摄影测量系统

XTDP工业近景摄影测量系统是一个便携式三坐标工业测量系统。用高分辨率单反相机,通过多幅二维照片,计算工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型物体的关键点进行三维测量。

XTDP工业近景摄影测量系统系统既可单独使用,也可与XTOM型蓝光高精度三维扫描仪配合使用,能够有效地保证大型物体整体点云的拼接精度。

天线弧面三维摄影测量

在进行三维摄影测量前,检查XTDP三维光学摄影测量设备是否正常,相机是否充电充足,闪光灯是否正常。黏贴标志点和编码点均匀分布。

天线弧面三维摄影测量.jpg

三维摄影测量步骤

选取最佳位置采用XTDP三维光学摄影测量设备快速拍照。照片导入专用软件快速计算空间三维坐标。XTDP三维光学摄影测量软件导出立体框架数据开始计算。

三维摄影测量数据结果

使用XTDP三维光学摄影测量系统可对天线弧面进行高精度(精度达到0.1毫米级别)变形测量,通过与设计数据或过往检测的历史数据对比分析,可精确分析出设施的变形情况。

天线弧面三维摄影测量-偏差数据分析.jpg

三维摄影测量数据模型导入检测软件里进行比较偏差

天线弧面三维摄影测量-偏差数据分析.jpg

客户关注的三维摄影测量数据rms值。

天线弧面三维摄影测量-偏差数据分析.jpg

新拓三维XTDP三维光学摄影测量系统是一套非接触式光学三维工业测量系统,可用于地面难以拍摄的大型基建项目、塔类、雷达天线类等设备设施的空间尺寸几何检测、变形监测和逆向工程分析!


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